KASN15F

Tillfällig

Mikroskopisk karaktärisering av material

7.5

Gemensam kurs, avancerad nivå och forskarnivå

7719 (Kemiska institutionen (LTH) / Centrum för Analys och Syntes)

2025-09-15

Jens Wahlström

Engelska

En gång per termin

Att studenten skaffar sig en aktiv kunskapsbas vad det gäller tillgängliga metoder för elementanalys på nanometerskala
Att studenten förstår de förlopp som ligger bakom de olika analysmetoderna
Att studenten skall kunna utföra analyserna praktiskt

* Elastisk och inelastisk spridning
* Elektromagnetiska linser
* Principer och funktion hos olika typer av elektronmikroskop (TEM, SEM)
* Diffraktion
* Kontrastmekanismer vid avbildning
* Spektrometrar för elementanalys. Energidispersiv röntgenspektrometer XEDS Elektronenergiförlustspektrometer(EELS)
* Identifiering och kvantifiering av spektra

Utnyttja sina kunskaper om elektronstruktur för att kunna förutsäga egenskaper som röntgenemission, Augerelektronemission och sekundärelektronemission.
Förstå elastisk och inelastisk spridning av elektroner i fasta material.
Förstå principer bakom avbildning med mikroskopimetoder.
Förstå hur olika detektorer fungerar.

Kunna planera lämplig preparationsmetod för olika typer av material.
Tillämpa sina kunskaper för att välja en lämplig analysmetod för ett visst materialproblem.
Analysera bilder och spektra från olika typer av material, både kvalitativt och kvantitativt.
Utföra planerade analyser på ett flertal olika typer av instrument.

Kunna utvärdera noggrannhet och precision hos olika analysmetoder.
Kunna förklara eventuella artefakter och felkällor.
Självständigt kunna planera och genomföra analyser av okända materialprov.

Föreläsningar

Laborationer

Projekt

Muntlig tentamen

Skriftlig rapport

Seminarieföredrag av deltagarna

Underkänd, godkänd

Baskunskaper inom optik och materialkemi. Grundkurs i analys på nanoskalan eller viss praktisk erfarenhet av elektronmikroskopi är fördelaktig, men inget krav.

Kursen begränsas till 12 platser (sammantaget med KASN15 för MSc studenter). Prioritet ges till doktorander som behöver självständig tillgång till elektronmikroskopi-infrastruktur för sin forskning.

Williams, David B. & Carter, C. Barry: Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science. Springer Science & Business Media, 2009. ISBN 9780387765006.

Även tillgänglig som ebok.

KASN15F

2025-09-15

Jens Wahlström